IEEE 1131-1987 锗半导体伽马射线能谱测定用低温器端盖尺寸
作者:标准资料网 时间:2024-05-21 22:08:42 浏览:9862
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【英文标准名称】:Cryostatend-capdimensionsforgermaniumsemiconductorgamma-rayspectrometers
【原文标准名称】:锗半导体伽马射线能谱测定用低温器端盖尺寸
【标准号】:IEEE1131-1987
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1987
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:锗;分光计;γ射线探测器;辐射计;辐射测量;半导体;γ辐射
【英文主题词】:radiationmeasurement;gamma-radiation;radiationmeters;germanium;spectrometers;semiconductors;gamma-raydetectors
【摘要】:
【中国标准分类号】:F81
【国际标准分类号】:17_240
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:锗半导体伽马射线能谱测定用低温器端盖尺寸
【标准号】:IEEE1131-1987
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1987
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:锗;分光计;γ射线探测器;辐射计;辐射测量;半导体;γ辐射
【英文主题词】:radiationmeasurement;gamma-radiation;radiationmeters;germanium;spectrometers;semiconductors;gamma-raydetectors
【摘要】:
【中国标准分类号】:F81
【国际标准分类号】:17_240
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语
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